電子顕微鏡周辺機器

従来型試料作製装置 / Conventional Specimen Preparation

Model 110 Model 170 Model 200 Model 160
電解研磨装置 超音波
ディスクカッター
ディンプリング
グラインダー
試料研磨治具
(Model 200用治具)

イオンビーム試料作製装置 / Ion Beam Preparation

Model 1030 Model 1040 Model 1051 Model 1061
自動サンプル
前処理システム
(ASaP)
FIB後処理用
イオンミリング装置
NanoMill
TEM用
イオンミリング装置
TEM Mill
SEM用
イオンミリング装置
SEM Mill

試料洗浄装置 / Contamination Solutions

Model 1020
プラズマクリーナー

 

電子顕微鏡周辺機器について

特長

ディンプリング研磨、超音波ディスクカット等の従来技術を用いた試料作製や、
濃縮イオンビームによるダメージの無い試料生成によって、
電子顕微鏡観察に最適な環境を構築するE.A. Fischione Instruments, Inc.社の装置です。

またプラズマクリーナーによって試料およびホルダーから、
試料の組成や性質を変えることなく、有機物質のみを除去することで、
TEM、SEM電子顕微鏡観察に最適な環境を実現します。

 

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