超音波ディスクカッター Model 170
硬く脆い試料から、ダメージを与えずに透過型電子顕微鏡(TEM)用試料を切り出しが可能です。
厚さ10mm程度の試料から円板状の標本を切り出すことや、
ある大きさを持った固まりからΦ3mm以下の円柱試料を切り出すこと、
XTEM用試料を作製する際に使用される四角形のウェハーを切り出すことが出来ます。
特徴
●最小限の損傷での試料切断が可能
●薄い試料(>10µm)から厚い試料(<1cm)まで切断可能
●円板状、ロッド状、あるいは長方形の試料切断が可能
●自動終了機能
●精密な位置決め制御
●マイクロスコープアタッチメント標準装備
仕様
| 製品型番 | Model 170 |
| 本体寸法 | W127mm × D384mm × H267mm W229mm × D384mm × H267mm（顕微鏡付属） |
| 本体重量 | 6.8kg |
| 研削機能 | 3mm（標準）, 2.3mm 長方形サイズ：2mm × 3mm, 4mm × 5mm |
| 電源 | 110/220 V AC, 50/60 Hz, 250 W |
| オプション品名 | 顕微鏡アタッチメント |
| 倍率 | 40倍 |
| 位置再現精度 | ＞10µm |
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