電子顕微鏡周辺機器
従来型試料作製装置 / Conventional Specimen Preparation
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| Model 110 / Model 120 | Model 170 | Model 200 | Model 160 |
| 電解研磨装置 | 超音波 ディスクカッター |
ディンプリング グラインダー |
試料研磨治具 (Model 200用治具) |
イオンビーム試料作製装置 / Ion Beam Preparation
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| Model 1040 | Model 1051 | Model 1061 |
| FIB後処理用 イオンミリング装置 NanoMill |
TEM用 イオンミリング装置 TEM Mill |
SEM用 イオンミリング装置 SEM Mill |
試料洗浄装置 / Contamination Solutions
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| Model 1020 |
| プラズマクリーナー |
電子顕微鏡周辺機器について
特長
ディンプリング研磨、超音波ディスクカット等の従来技術を用いた試料作製や、
濃縮イオンビームによるダメージの無い試料生成によって、
電子顕微鏡観察に最適な環境を構築するE.A. Fischione Instruments, Inc.社の装置です。
またプラズマクリーナーによって試料およびホルダーから、
試料の組成や性質を変えることなく、有機物質のみを除去することで、
TEM、SEM電子顕微鏡観察に最適な環境を実現します。
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